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半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)問(wèn)答題每日一練(2019.09.23)

來(lái)源：考試資料網(wǎng)

1.問(wèn)答題靜電對(duì)電子器件的危害。

參考答案：⑴靜電吸附灰塵，改變線路間的阻抗，影響產(chǎn)品的功能與壽命。
⑵因電場(chǎng)或電流破壞元件的絕緣或?qū)w，使元件不能工作（...

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2.問(wèn)答題Open-short串行靜態(tài)測(cè)試方法優(yōu)缺點(diǎn)。

參考答案：優(yōu)點(diǎn)
當(dāng)一個(gè)失效（failure）發(fā)生時(shí)，其準(zhǔn)確的電壓測(cè)量值會(huì)被數(shù)據(jù)記錄（datalog）顯示出來(lái)，不管它是O...

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3.問(wèn)答題基本注意事項(xiàng)。

參考答案：⑴安全：生產(chǎn)加工過(guò)程中不需要注意防火、防電、防事故，保證人身、設(shè)備和器件的安全。
⑵保密：每個(gè)公司都有自己的核...

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4.問(wèn)答題IIH/IIL集體測(cè)試法優(yōu)缺點(diǎn)。

參考答案：優(yōu)點(diǎn)：能在短時(shí)間內(nèi)迅速進(jìn)行漏電流的測(cè)試。
缺點(diǎn)：
1.測(cè)試對(duì)象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；

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5.問(wèn)答題模擬電路的測(cè)試

參考答案：

模擬集成電路的最大特點(diǎn)在于其輸入、輸出信號(hào)是連續(xù)變化的，這就決定了模擬集成電路測(cè)試的復(fù)雜性，和多樣性。