DMA測(cè)試常見的兩種掃描測(cè)試方式為（）。

下列（）是玻璃生產(chǎn)最重要的環(huán)節(jié)。

對(duì)于劇烈放熱效應(yīng)的特殊樣品，例如爆炸物等，應(yīng)加大熱分析設(shè)備的加熱速率。

高分辨成像含兩個(gè)基本過程，分別對(duì)應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。

電子探針的主要作用是用來進(jìn)行（）分析。

電子探針做定量分析時(shí)一般不需要進(jìn)行修正。

衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)理論忽略動(dòng)力學(xué)效應(yīng)，沒有考慮入射波與衍射波的相互作用。

不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）。

對(duì)第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是（）。