RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。

偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

GPS-RTK測(cè)圖時(shí)作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。

四等導(dǎo)線測(cè)量全長(zhǎng)相對(duì)閉合差的限差規(guī)定為（）。

路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

繪制坐標(biāo)方格網(wǎng)，方格的邊長(zhǎng)應(yīng)準(zhǔn)確，誤差不超過(guò)（）。