若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

下列誤差中，（）是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。

精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、（）、數(shù)軸和光學(xué)（激光）對(duì)中器視軸等。

利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為（）

偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

雙面水準(zhǔn)尺中，以下說法正確的是（）。