電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

拉曼光譜分析儀在使用過(guò)程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

變形振動(dòng)分為（）。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。