在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。

每種晶體物質都有自己特定的晶體結構，晶體結構不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。