熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。

根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫為（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。