電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

紅外光分為（）。