A.測量儀
B.磁強(qiáng)計(jì)
C.在零件上放一磁鐵
D.仔細(xì)觀察零件是否粘有磁粉
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A.1500LX
B.1000LX
C.800LX
D.2000LX
A.10伏
B.50伏
C.0.001~1伏
D.1~5伏
A.減小水平線性誤差
B.增大發(fā)射能量
C.增大儀器動(dòng)態(tài)范圍
D.控制換能器阻尼
A.前者反射波高
B.前者反射波低
C.反射波相同
D.前者反射波無規(guī)律性變化
A.平面波
B.球面波
C.活塞波
最新試題
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量,測試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。