A.檢驗臺的位置
B.零件的材料、形狀和狀態(tài)
C.零件的磁導率
D.B和C
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.曝光量
B.清晰度
C.焦點
D.焦距
A.氣孔
B.夾渣
C.裂紋
D.未熔合
A.試塊回波振幅確定
B.同型號探頭比較確定
C.探頭特性計算確定
D.距離-波幅曲線
A.頻率增加
B.電阻增加
C.電流增加
D.電感增加
A.6
B.7500安匝
C.2.14
D.45000安匝
最新試題
為了減少側壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內會產(chǎn)生強烈的聲束擴散。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會使定量誤差增加。
當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
電磁超聲探頭在工件的表層內產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
儀器時基線調節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準相應垂直刻度或讀數(shù)不準,會使缺陷定位誤差增加。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。