填空題阻尼塊也稱(chēng)吸收塊,粘附在壓電芯片背面,其作用是阻止芯片的()和吸收芯片背面()的聲能,從而減少()和()干擾。

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1.單項(xiàng)選擇題在同一固體材料中,縱、橫波聲速之比與材料的()有關(guān)。

A.密度
B.彈性模量
C.泊松比
D.以上全部

2.單項(xiàng)選擇題超聲波傳播過(guò)程中,遇到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)將發(fā)生()。

A.只繞射不反射
B.既繞射又反射
C.無(wú)繞射只反射

3.單項(xiàng)選擇題當(dāng)溫度升高時(shí),水的聲阻抗將()。

A.不變
B.增大
C.變小
D.無(wú)規(guī)律變化

5.單項(xiàng)選擇題超聲波傾斜入射至異質(zhì)接口時(shí),反射波與透過(guò)波聲能的分配比例取決于()。

A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速
B.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗

最新試題

經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。

題型:判斷題

動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。

題型:判斷題

衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。

題型:判斷題

對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。

題型:判斷題

在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí),應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù),計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。

題型:判斷題

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。

題型:判斷題

橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。

題型:判斷題

超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。

題型:判斷題

當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。

題型:判斷題

無(wú)論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。

題型:判斷題