高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。

儀器時基線調節(jié)比例時，若回波前沿沒有對準相應垂直刻度或讀數不準，會使缺陷定位誤差增加。

缺陷垂直時，擴散波束入射至缺陷時回波較高，而定位時就會誤認為缺陷在軸線上，從而導致定位不準。

為了減少側壁的影響，必要時可采用試塊比較法進行定量，以便提高定量精度。

發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度，它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。

超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴重，定量會受到影響。

缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。

當探頭的性能不佳時出現兩個主聲束，發(fā)現缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。

檢測曲面工件時，探頭與工件接觸有兩種情況，一是平面與曲面接觸，另一種是將探頭斜楔磨成曲面，探頭與工件曲面接觸。

對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。