判斷題型試片的分數值越大,顯示磁痕所需要的有效磁場強度越大。
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用AVG曲線評定缺陷時,其準確性很大程度上取決于超聲波探傷儀和探頭的性能。
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超聲波垂直入射到兩種介質的界面上,其聲壓反射率和聲壓透射率之和為1。
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