A.中位數(shù)
B.算術(shù)均數(shù)
C.調(diào)和均數(shù)
D.幾何均數(shù)
E.眾數(shù)
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你可能感興趣的試題
A.標(biāo)準(zhǔn)差
B.標(biāo)準(zhǔn)誤
C.變異系數(shù)
D.全距
A.線圖
B.餅圖
C.直條圖
D.直方圖
A.頻數(shù)
B.頻率
C.頻數(shù)分布表
D.累積頻數(shù)
A.統(tǒng)計(jì)圖的標(biāo)題放在圖的上方
B.線圖中的線條越多越好
C.線圖中的縱軸必須從零開(kāi)始
D.直方圖的組距不必相等
A.算術(shù)平均數(shù)
B.幾何均數(shù)
C.百分位數(shù)
D.中位數(shù)
最新試題
在產(chǎn)品抽樣檢驗(yàn)和控制圖分析中經(jīng)常用到（）。
點(diǎn)估計(jì)的評(píng)價(jià)準(zhǔn)則包括（）、（）和（）等。
小樣本一般是指（）。
影響時(shí)間序列的因素包括（）、（）、（）和（）。
最小二乘法預(yù)測(cè)模型包括（）、（）和（）。
獨(dú)立重復(fù)試驗(yàn)中，試驗(yàn)首次成功所需的試驗(yàn)次數(shù)服從（）。
列聯(lián)表是（）變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)?？ǚ綑z驗(yàn)通常被用來(lái)檢驗(yàn)列聯(lián)表（）。
假設(shè)檢驗(yàn)的決策依據(jù)是（）。
絕對(duì)數(shù)時(shí)間序列分為（）和（）。
假設(shè)檢驗(yàn)中的兩類錯(cuò)誤為（）和（） 。對(duì)于一定的樣本量n，（）同時(shí)做到減小犯這兩種錯(cuò)誤的概率。