對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

最容易發(fā)生康普頓效應的射線能量為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關系是（）

光電效應發(fā)生的機率隨什么變化（）

探頭的分辨力（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

影響較大的散射線通常來自（）

當射線穿透任何一物體時，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構成該物的原子內電子向各方面散射，此散射為（）

最容易發(fā)生光電效應的射線能量為（）