二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

一般認為表面波探測的有效深度約為（）

下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述，不正確的一項是（）