欲測定SiO2的厚度,通常將其磨成圖示劈尖狀,然后用光的干涉方法測量,若以λ=590nm光垂直入射,看到七條暗紋,且第七條位于N處,問該膜厚為多少。
已知N處為第七條暗紋,而棱邊處對應(yīng)K=0的暗紋,所以取K=6,得
波長為500nm的單色光垂直照射到由兩塊光學(xué)平玻璃構(gòu)成的空氣劈尖上,在觀察反射光的干涉現(xiàn)象中,距劈尖棱邊l=1.56cm的A處是從棱邊算起的第四條暗條紋中心。 (1)求此空氣劈尖的劈尖角θ。 (2)改用600nm的單色光垂直照射到此劈尖上仍觀察反射光的干涉條紋,A處是明條紋,還是暗條紋?
故A處為第三級明紋,棱邊依然為暗紋。
如圖所示,牛頓環(huán)裝置的平凸透鏡與平面玻璃有一小縫e0?,F(xiàn)用波長為λ單色光垂直照射,已知平凸透鏡的曲率半徑為R,求反射光形成的牛頓環(huán)的各暗環(huán)半徑。