A.前表面反射的幅度
B.多次反射模式
C.所有的表面反射
D.以上都不是
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A.3.2x105Hz
B.4.3x105Hz
C.8.6x105Hz
D.6.4x105Hz
A.脈沖-回波檢測(cè)
B.穿透檢測(cè)
C.連續(xù)波檢測(cè)
D.表面波檢測(cè)
A.檢測(cè)頻率以恒定的率改變
B.傳播速度大為偏離給定材料應(yīng)有的恒定值
C.在探頭與被測(cè)工件之間用水作耦合劑
D.以上都不是產(chǎn)生誤差的原因
A.缺陷的尺寸
B.缺陷的取向
C.缺陷的類(lèi)型
D.以上都是
A.表面波檢測(cè)
B.斜聲束檢測(cè)
C.穿透法檢測(cè)
D.直聲束檢測(cè)
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。