A.當(dāng)時(shí)間用光時(shí)
B.執(zhí)行了所有的測(cè)試用例，但沒(méi)有發(fā)現(xiàn)故障
C.當(dāng)所有缺陷都已清除時(shí)
D.當(dāng)達(dá)到所有要求的覆蓋時(shí)
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A.與原程序無(wú)關(guān)的程序員
B.編制該源程序的程序員
C.測(cè)試人員
D.設(shè)計(jì)該軟件的機(jī)構(gòu)
A.軟件測(cè)試是有風(fēng)險(xiǎn)的行為
B.完全測(cè)試程序是不可能的
C.測(cè)試無(wú)法顯示潛伏的軟件缺陷
D.找到的缺陷越多，軟件的缺陷就越少
A.新建狀態(tài)
B.已關(guān)閉狀態(tài)
C.一致?tīng)顟B(tài)
D.修復(fù)狀態(tài)
A.技術(shù)問(wèn)題
B.團(tuán)隊(duì)工作
C.軟件本身
D.以上全部
A.需求階段
B.設(shè)計(jì)階段
C.編程階段
D.發(fā)布運(yùn)行階段
最新試題
代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。
等價(jià)類劃分法使用步驟描述錯(cuò)誤的是（）
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問(wèn)題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。
（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。
軟件評(píng)審結(jié)論不包括（）