A.垂直入射
B.聲束與管材外表面相切
C.適當(dāng)?shù)剡x擇入射角
D.用切割的石英晶制作探頭
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A.0dB
B.3dB
C.用實(shí)驗(yàn)方法實(shí)際測(cè)得的補(bǔ)償dB值
D.根據(jù)經(jīng)驗(yàn)而定
A.頻率升高
B.駐波現(xiàn)象
C.波型轉(zhuǎn)換
D.聲速變慢
A.縱波
B.橫波
C.蘭姆波
D.表面波
A.頻率越低
B.頻率越高
C.無(wú)明顯影響
D.頻率變化不定
A.衰減顯著
B.出現(xiàn)雜亂回波
C.能檢出微小缺陷
D.穿透能力強(qiáng)
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。