度盤(pán)刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。

若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。

同步基線是利用同一時(shí)段的（）同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線向量。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）

繪制坐標(biāo)方格網(wǎng)，方格的邊長(zhǎng)應(yīng)準(zhǔn)確，誤差不超過(guò)（）。

衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。

偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。