A.對(duì)比度高的影像
B.黑度大的影像
C.清晰度高的影像
D.以上都不對(duì)
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A、穿透深度
B、影像清晰度
C、管子的功率比
D、散熱效果
A、高能射線能在鉛屏蔽上激發(fā)出較強(qiáng)的散射線
B、高能射線能在鉛屏蔽上激發(fā)出較強(qiáng)的高能電子
C、使用鉛屏蔽反而會(huì)降低影像質(zhì)量
D、以上都對(duì)
A、X射線
B、高能射線
C、γ射線
D、以上都不適合
A、直接照相法
B、間接照相法
C、透過(guò)照相法
D、熒光照相法
A、結(jié)果無(wú)法再現(xiàn)和周期性地置換熒光屏難以實(shí)現(xiàn)
B、受到亮度和熒光屏材料晶粒尺寸的限制
C、成本高和速度慢
D、以上都不是
最新試題
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
底片干燥時(shí),一般不得超過(guò)60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
散射比的大小與()因素有關(guān)。
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用()
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。