A、用熒光增感屏進(jìn)行X射線照相時(shí),曝光時(shí)間可以顯著縮短,但底片的像質(zhì)較差
B、熒光增感屏的增感作用不如鉛箔增感屏
C、用鉛箔增感屏?xí)r,若X射線管的管電壓太高,會(huì)產(chǎn)生磷光現(xiàn)象
D、用熒光增感屏進(jìn)行X射線照相時(shí),曝光時(shí)間雖然較長(zhǎng),但底片的像質(zhì)較好
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A、1MeV
B、150KV
C、25KV
D、320KV
A、1000
B、150
C、325
D、2000
A、熒光屏觀察法
B、高KV值射線照相法
C、低KV值射線照相法
D、干板射線照相法
A、相同的
B、不規(guī)則的
C、隨著管電壓增大而增大
D、隨著管電壓降低而減小
A、增加散射線
B、減小影像對(duì)比度
C、增加感光效果
D、只能用于X射線而不能用于伽瑪射線
最新試題
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
底片干燥時(shí),一般不得超過60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
與直探頭相比,雙晶探頭()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
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