A、中子
B、質(zhì)子
C、電子
D、α粒子
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A、同位素中子源
B、加速器中子源
C、反應(yīng)堆中子源
D、以上都是
A、質(zhì)子
B、α粒子
C、氘核
D、γ光子
A、鉛
B、鋼
C、鋁
D、氫
A、X射線波長(zhǎng)較短,伽瑪射線波長(zhǎng)較長(zhǎng)
B、X射線波長(zhǎng)較長(zhǎng),伽瑪射線波長(zhǎng)較短
C、X射線與伽瑪射線波長(zhǎng)完全一樣
D、不一定,在某些部分兩者的波長(zhǎng)會(huì)有重疊
A、伽瑪射線光譜是連續(xù)的,X射線光譜也是連續(xù)的
B、伽瑪射線光譜是不連續(xù)的,而X射線光譜是連續(xù)的
C、伽瑪射線光譜是不連續(xù)的,X射線光譜也是不連續(xù)的
D、伽瑪射線光譜是連續(xù)的,而X射線光譜是不連續(xù)的
最新試題
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
關(guān)于聲壓往復(fù)透射率,以下敘述正確的是()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。
下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法,正確的是()
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹枝狀花紋的原因是()
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()