A、試件厚度
B、透度計(jì)厚度
C、曝光時(shí)間
D、顯影時(shí)間
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A、材質(zhì)
B、編號(hào)
C、厚度
D、孔徑
A、最小孔洞直徑0.20英寸
B、最小孔洞直徑2.0mm
C、像質(zhì)計(jì)厚度0.20英寸
D、像質(zhì)計(jì)厚度0.020英寸
A、1T、2T、3T
B、1T、2T、4T
C、2T、3T、4T
D、3T、4T、5T
A、有六條,線徑按等差級(jí)數(shù)排列
B、有六條,線徑按等比級(jí)數(shù)排列
C、有七條,線徑按等差級(jí)數(shù)排列
D、有七條,線徑按等比級(jí)數(shù)排列
A、各種像質(zhì)計(jì)設(shè)計(jì)了自己特定的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)形式,規(guī)定了自己的測(cè)定射線照相靈敏度的方法,它們之間不能簡(jiǎn)單換算
B、各種像質(zhì)計(jì)有自己特定的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)形式,但它們測(cè)定射線照相靈敏度的方法是相同或相似的
C、用不同像質(zhì)計(jì)得到的射線照相靈敏度值如果相同,就意味著射線照片的影像質(zhì)量相同
D、以上都不對(duì)
最新試題
一般來說,對(duì)薄工件焊縫的超聲波探傷選用大折射角探頭可以()
散射比的大小與()因素有關(guān)。
底片干燥時(shí),一般不得超過60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
與直探頭相比,雙晶探頭()
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()