A.照相焦距(F)
B.管電壓(U)
C.射線源焦點(diǎn)尺寸(d)
D.缺陷至膠片的距離(a)
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A.厚度差(ΔT)
B.膠片種類
C.衰減系數(shù)(µ)
D.散射比(n)
A.底片上某一小區(qū)域和相鄰區(qū)域的黑度差稱為底片對(duì)比度,又叫作底片反差
B.底片對(duì)比度越大,影像就越容易被觀察和識(shí)別
C.硬射線所得的底片比軟射線的底片對(duì)比度高
D.對(duì)比度又可分為主因?qū)Ρ榷群湍z片對(duì)比度
A.射線照相對(duì)比度
B.不清晰度
C.顆粒度
D.以上都是
A.影像重疊
B.影像畸變
C.影像放大
D.以上都有可能
A.影像放大是指在膠片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物體的尺寸
B.影像放大與射線源尺寸無(wú)關(guān)
C.影像放大的程度與射線源至被透照物體的距離有關(guān)
D.影像放大的程度與影像所表示的物體和膠片的距離有關(guān)
最新試題
X射線照相時(shí),設(shè)焦距為650mm,陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°,則其輻射場(chǎng)直徑為()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是()
射線底片灰霧度過(guò)大會(huì)損害影像的()
渦流檢測(cè)不適合于檢測(cè)()
提高射線照相對(duì)比度,會(huì)產(chǎn)生的不利后果有()
同位素的含義是()
雙壁單影透照環(huán)焊縫時(shí),不滿足Ug要求下,應(yīng)選擇較小焦距,這是為了()
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()