問答題為什么透度計(jì)一定要放在靠射線源側(cè)的工作表面上?
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在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫()
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為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
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