單項(xiàng)選擇題ASME規(guī)范關(guān)于背射監(jiān)測(cè)的規(guī)定是()
A.在每個(gè)暗盒背后貼“B”標(biāo)記;
B.在每個(gè)暗盒前面貼附“B”標(biāo)記;
C.每10個(gè)暗盒中有一個(gè)必須貼附“B”標(biāo)記;
D.無任何規(guī)定。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題射線實(shí)時(shí)成像的最大放大倍數(shù)取決于()
A.屏的亮度與對(duì)比度靈敏度
B.屏固有不清晰度與掃描速度
C.射線源的尺寸與屏的亮度
D.射線源的尺寸與屏的固有不清晰度
2.單項(xiàng)選擇題射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)的性能鑒定內(nèi)容包括()
A.象素和灰度等級(jí)
B.空間分辨力和對(duì)比度靈敏度
C.對(duì)比度和總的不清晰度
D.分辨力和放大倍數(shù)
3.單項(xiàng)選擇題射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)的最佳放大倍數(shù)主要取決于()
A.射源尺寸和固有不清晰度
B.射源尺寸和屏尺寸
C.射源尺寸和空間分辨力
D.對(duì)比度靈敏度和總的不清晰度
4.單項(xiàng)選擇題測(cè)試射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)對(duì)比度靈敏度通常用()
A.階梯試塊
B.平底方孔試塊
C.平底園孔試塊
D.B和C
5.單項(xiàng)選擇題測(cè)試射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)圖像分辨力通常用()
A.孔型象質(zhì)計(jì)
B.線對(duì)測(cè)試卡
C.雙絲象質(zhì)計(jì)
D.B和C
最新試題
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
下列關(guān)于X射線機(jī)的使用的描述不正確的是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
A型脈沖超聲波檢測(cè)存在的主要問題是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)不適合于檢測(cè)()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
核力與下列哪種因素?zé)o關(guān)()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無損檢測(cè)方法是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
有關(guān)射線膠片特性的敘述,正確的是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
同位素的含義是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題