問(wèn)答題為什么《規(guī)程》中將耦合電容器偏小的誤差由-10%改為-5%?
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紅外測(cè)溫檢測(cè)中,屬于電壓致熱型的缺陷為()
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GIS現(xiàn)場(chǎng)耐壓及絕緣試驗(yàn)時(shí),被試品可能出現(xiàn)的絕緣缺陷類(lèi)型包括()
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變壓器介損測(cè)量時(shí)()
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以下關(guān)于套管電容量及介質(zhì)損耗角正切值tanδ試驗(yàn)敘述正確的是()
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測(cè)量電容式套管的電容量比歷史數(shù)據(jù)增大時(shí),一般存在()缺陷。
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對(duì)于絕緣子和套管耐壓盡量采用自耦調(diào)壓器,要求()
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交流耐壓試驗(yàn)的試驗(yàn)電壓可由()產(chǎn)生。
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交流耐壓試驗(yàn)中可能出現(xiàn)()
題型:多項(xiàng)選擇題