直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）

下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法，正確的是（）

小口徑管道射線探傷時(shí)常采用（）方法透照。

半價(jià)層厚度與（）相關(guān)。

采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí)，焦距為1m，曝光時(shí)間為6min，其余條件均不變，曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為（）

焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1：1調(diào)整后，其始波前沿（）

關(guān)于超聲波斜入射，下列說(shuō)法正確的是（）

在探傷靈敏度確定后，缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>

散射比的大小與（）因素有關(guān)。

關(guān)于聲波的指向性和指向角，正確的是（）