單項(xiàng)選擇題滲透檢測(cè)法適用于檢驗(yàn)的缺陷是()。

A.表面開口缺陷
B.近表面缺陷
C.內(nèi)部缺陷
D.以上都對(duì)


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2.單項(xiàng)選擇題X射線照相的主要目的是()。

A.檢驗(yàn)晶粒度
B.檢驗(yàn)表面質(zhì)量
C.檢驗(yàn)內(nèi)部質(zhì)量
D.以上全是

3.單項(xiàng)選擇題X射線照相檢測(cè)工藝參數(shù)主要是()。

A、焦距
B、管電壓、管電流
C、曝光時(shí)間
D、以上都是

4.單項(xiàng)選擇題10居里鈷60γ射線源衰減到1.25居里,需要的時(shí)間約為()。

A.5年
B.1年
C.16年
D.21年

5.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)法適用于檢驗(yàn)的缺陷是()。

A.鍛鋼件中的折疊
B.鑄件金屬中的氣孔
C.金屬板材中的分層
D.金屬焊縫中的夾渣
E.b和d