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A.考試方式包括筆試、操作考試以及必要的口試;考試內(nèi)容包括基礎(chǔ)技術(shù)和專業(yè)技術(shù)兩個(gè)部分
B.只要筆試和操作考試在80分以上,就免予口試
C.共培訓(xùn)練習(xí)用的試塊也可作為考試試樣
D.技術(shù)資格合格,筆試和操作考試平均在80分以上,報(bào)考人員就可以取得II級(jí)資格證書
A.試片厚度為15/100mm
B.槽深為15/100mm
C.試片厚度100微米,槽深15微米
D.槽寬15微米,槽深100微米
A.10N
B.45N
C.87N
D.177N
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
儀器水平線性影響()。