（）是影響缺陷定量的因素。

探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

單探頭法容易檢出（）。

調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準相應(yīng)的聲程位置。

當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。