單項(xiàng)選擇題被測(cè)平面出現(xiàn)彎曲的干涉條紋時(shí),當(dāng)切線與三條干涉條紋相交,其平面度偏差為()。

A.0.29微米
B.0.58微米
C.0.72微米
D.0.87微米


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1.單項(xiàng)選擇題干涉光帶為(),表明被測(cè)件的平面度非常高,接近于理想平面,平面度偏差小于0.029微米。

A.直帶
B.同心圓干涉帶
C.橢圓形干涉帶
D.鞍形干涉帶

3.單項(xiàng)選擇題()被廣泛使用在機(jī)械密封端面檢測(cè)上。

A.光學(xué)平晶
B.激光干涉儀
C.凹透鏡
D.凸透鏡

4.單項(xiàng)選擇題密封端面平面度的檢測(cè),通常是利用光波的()來測(cè)量。

A.反射效應(yīng)
B.折射效應(yīng)
C.衍射效應(yīng)
D.干涉效應(yīng)

5.單項(xiàng)選擇題動(dòng)靜環(huán)密封面有兩點(diǎn)或兩點(diǎn)以上高點(diǎn)接觸磨損圖像說明()。

A.動(dòng)環(huán)未對(duì)中
B.雜質(zhì)進(jìn)入密封面
C.密封面不平直
D.靜環(huán)未對(duì)中