A、內(nèi)部系統(tǒng)總線(xiàn)
B、電纜
C、電源總線(xiàn)
D、控制總線(xiàn)
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你可能感興趣的試題
A、中央控制單元、存儲(chǔ)器、輸入輸出擴(kuò)展接口、外部設(shè)備接口以及電源
B、中央控制單元、存儲(chǔ)器、輸入輸出單元、輸入輸出擴(kuò)展接口、外部設(shè)備接口以及輸入輸出擴(kuò)展機(jī)
C、存儲(chǔ)器、輸入輸出單元、輸入輸出擴(kuò)展接口、外部設(shè)備接口以及電源
D、中央控制單元、存儲(chǔ)器、輸入輸出單元、輸入輸出擴(kuò)展接口、外部設(shè)備接口以及電源等部分
A、處理器、輸入輸出模塊及外部設(shè)備
B、CPU輸入輸出模塊、通訊模塊及外部設(shè)備
C、主機(jī)、輸入輸出擴(kuò)展機(jī)及外部設(shè)備
D、CPU輸入輸出模塊、通訊模塊及電源模塊
A、輸出映象表
B、遠(yuǎn)程I/O緩沖區(qū)
C、輸入映象表
D、輸入和輸出暫存區(qū)
A、不同步且獨(dú)立的
B、同步且獨(dú)立的
C、不同步且相關(guān)的
D、同步且相關(guān)聯(lián)的
A、用輸出映象表數(shù)據(jù)刷新處理器基本框架上駐留本地I/0輸出模塊；用存放在遠(yuǎn)程I/O緩沖區(qū)的遠(yuǎn)程I/O輸入狀態(tài)刷新輸入映象表
B、用輸出映象表的數(shù)據(jù)刷新遠(yuǎn)程I/O緩沖區(qū)；用處理器基本框架內(nèi)的I/O輸入狀態(tài)刷新輸入映象表；用存放在遠(yuǎn)程I/O緩沖區(qū)的遠(yuǎn)程I/O輸入狀態(tài)刷新輸入映象表
C、用輸出映象表數(shù)據(jù)刷新處理器基本框架上駐留本地I/0輸出模塊；用處理器基本框架內(nèi)的I/O輸入狀態(tài)刷新輸入映象表；用存放在遠(yuǎn)程I/O緩沖區(qū)的遠(yuǎn)程I/O輸入狀態(tài)刷新輸入映象表
D、用輸出映象表數(shù)據(jù)刷新處理器基本框架上駐留本地I/0輸出模塊；用輸出映象表的數(shù)據(jù)刷新遠(yuǎn)程I/O緩沖區(qū)；用處理器基本框架內(nèi)的I/O輸入狀態(tài)刷新輸入映象表；用存放在遠(yuǎn)程I/O緩沖區(qū)的遠(yuǎn)程I/O輸入狀態(tài)刷新輸入映象表
最新試題
SYY-II型溶氧儀運(yùn)行正常后，一般使用（），校下儀表靈敏度
介質(zhì)中含懸浮顆粒，并且黏度較高，要求泄露量小應(yīng)選用下列哪種閥門(mén)（）
露點(diǎn)分析儀在通常情況下，每隔（）天對(duì)反射鏡應(yīng)當(dāng)作一次清潔
電動(dòng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)的電子控制單元具有（）功能
（）填料是一種新型調(diào)節(jié)閥填料，具有密封性好、潤(rùn)滑性好、化學(xué)惰性強(qiáng)、耐磨性、耐高低溫等優(yōu)點(diǎn)，缺點(diǎn)是摩擦力大。
管線(xiàn)敷設(shè)時(shí)應(yīng)進(jìn)行一次全面的檢查，信號(hào)管線(xiàn)需做（）試驗(yàn)即可
某調(diào)節(jié)閥相對(duì)流量（Q/Qmax）與相對(duì)行程（I/L）成對(duì)數(shù)關(guān)系，則題特性為（）
一般規(guī)定管線(xiàn)介質(zhì)壓力大于（），溫度在－50～600℃為高壓管線(xiàn)
作為直接控制用的電磁閥多用在操作不方便處的排污或放空，這時(shí)電磁閥直接接在工藝管道上，一般為（）左右
當(dāng)電器閥門(mén)定位器輸入信號(hào)為（）mA時(shí)進(jìn)行安裝更合適