A.缺陷的長度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
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A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測，效率高
B.能同時得到缺陷長度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查，操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
A.可增大檢測范圍
B.可提高缺陷高度測量的精度
C.可消除表面盲區(qū)
D.可改進(jìn)缺陷定位
A.TOFD衍射信號的振幅顯著下降，缺陷難以檢出
B.TOFD衍射信號的振幅輕微下降，一般不影響檢出
C.TOFD衍射信號的振幅顯著上升，對檢出有利
D.以上都不對
A.120mm
B.138mm
C.148mm
D.156mm
A.15.3μs
B.18.1μs
C.20.9μs
D.24μs
最新試題
當(dāng)射線穿透任何一物體時，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
調(diào)節(jié)掃描速度時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
在筒身外壁做曲面周向探傷時（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括（）
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）
以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）
一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）