A.樣本和總體的差異
B.X-bar圖和R圖的差異
C.中位數(shù)和平均值的差異
D.一組數(shù)據(jù)的最大值和最小值之差
E.σ值和標(biāo)準(zhǔn)差的差異
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A.計算CPK的前提是過程呈正態(tài)分布
B.初始能力分析就是要確保過程能力CPK≥1.33
C.若過程不受控時,過程變差是由普通原因和特殊原因的疊加
D.在同一過程狀態(tài)下,計算的Cp≥Cpk
A.中值
B.規(guī)格限
C.控制限
D.極差
A.連續(xù)25點在控制線內(nèi)
B.連續(xù)35點最多有一點出界
C.連續(xù)100點最多有兩點出界
D.連續(xù)100點最多有三點出界
A.查明原因
B.采取措施、加以消除、不再出現(xiàn)
C.納入標(biāo)準(zhǔn)
D.以上均正確
A.計數(shù)控制圖和計量控制圖
B.分析用控制圖和控制用控制圖
C.計點型控制圖和計件型控制圖
D.原因分析用控制圖和數(shù)據(jù)收集用控制圖
最新試題
什么是測量設(shè)備的穩(wěn)定性?()
破壞型MSA使用什么方法進(jìn)行分析?()
研究變異滿足的條件是()。
下面關(guān)于計數(shù)型GRR指標(biāo)判定可能接受的標(biāo)準(zhǔn)正確的是()。
對于重復(fù)性和再現(xiàn)性分析,可以評價方差分量貢獻(xiàn)率,的接受指標(biāo)為()。
以下不屬于Gage R&R判定量測系統(tǒng)是否可接受的指針是()。
Gage R&R分析錯誤的是()。
重復(fù)性和再現(xiàn)性分析,Minitab提供兩種分析方法可選,應(yīng)該優(yōu)先選擇()。
采用塞規(guī)卡規(guī)測量產(chǎn)品,嚴(yán)格而言,屬于哪種測量系統(tǒng)?()
什么是測量設(shè)備的偏倚?()