A、仍按20%探傷,但探傷方法選用射線照相,Ⅲ級(jí)合格
B、進(jìn)行100%的射線照相,母材厚度超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅲ級(jí)合格
C、進(jìn)行100%的射線照相,母材超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅱ級(jí)合格
D、以上均可
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A、探傷人員
B、制造廠檢驗(yàn)部門根據(jù)實(shí)際情況
C、設(shè)計(jì)人員
D、以上均可
A、圓形缺陷是按規(guī)定評(píng)定區(qū)框線內(nèi)缺陷折算成點(diǎn)數(shù)來評(píng)定的。由于不同的評(píng)片人員使用評(píng)定區(qū)框線的誤差、框線放置的差異及測(cè)量誤差,將引起缺陷尺寸的差異,而缺陷尺寸的差異,必然引起折算點(diǎn)數(shù)的差異(如4mm折算成6點(diǎn),4.01mm折算成10點(diǎn)),就是對(duì)同一個(gè)評(píng)片人也會(huì)出現(xiàn)級(jí)別的差異,因此容器制造廠驗(yàn)收或RT人員實(shí)際考試也允許這種差異
B、雖然制造廠100%透照,由于缺陷處于底片的部位不同,特別是外透照的端部端部缺陷與中心一次全曝光的底片相比,前者缺陷拉長,后者缺陷較小,就是同一個(gè)評(píng)片人用同一套工具測(cè)量缺陷,也會(huì)出現(xiàn)不同的結(jié)論
C、AB均是強(qiáng)詞奪理,應(yīng)評(píng)為不合格,屬于產(chǎn)品質(zhì)量問題,退修
D、AB是對(duì)的,這屬于照相技術(shù)本身的問題,非屬產(chǎn)品質(zhì)量的問題
A、通常情況下必須選擇這樣的曝光量,這主要是限制操作者采用高管電壓(降低對(duì)比度),短焦距(降低幾何不清晰度)快速照相的不良做法,確保底片的靈敏度和X光射線機(jī)安全運(yùn)行
B、特殊情況下,不受限制
C、對(duì)于小直徑管子對(duì)接焊縫,也可采用“高能量短時(shí)間”操作,這又是一個(gè)特例
D、以上都對(duì)
A、L1≥2L3
B、L1≥3L3
C、L1≥1.5L3
D、以上都不對(duì)
A、衛(wèi)生部門辦理
B、公安部門辦理
C、環(huán)保部門辦理
D、上級(jí)主管部門辦理
最新試題
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
下列關(guān)于無限大固體介質(zhì)中聲速的說法錯(cuò)誤的有()。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)()要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
確定滲透劑是否具有高的滲透能力的主要參數(shù)有()。
超聲場中波源軸線上任一點(diǎn)聲壓的幅值與下列()等因素有關(guān)。
產(chǎn)生干涉的兩列相干波,在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差,波程差與波長相關(guān)聯(lián),所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)()等現(xiàn)象。
金屬材料的基本力學(xué)行為是指金屬材料在不同載荷作用下產(chǎn)生一些現(xiàn)象,這種現(xiàn)象包括()。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
按照受檢材料的相容性,可將滲透劑分為()滲透劑。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。