A.Za=Zc
B.Zb=(Za•Zc)1/2
C.Zc=Za•Zb
D.Za=Zb•Zc
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A.1/2波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
B.1/2波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
C.1/4波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
D.1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
A.1/2波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
B.1/2波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
C.1/4波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
D.1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
A.0.1%
B.0.5%
C.1%
D.2%
A.rp=(Z2-Z1)/Z1+Z2
B.tp=1+rp
C.R=rp2
D.D=1-rp2
A.0.5
B.–0.5
C.1
D.–1
最新試題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是()。
冷裂紋常見(jiàn)的有()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。