單項(xiàng)選擇題將一臺(tái)儀器與一個(gè)參考標(biāo)準(zhǔn)比較的過程叫（）。
A.掃查
B.維修
C.校準(zhǔn)或標(biāo)定
D.補(bǔ)償
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題頻率為2.5MHz、圓晶片直徑為20㎜探頭表示為（）。
A.2.5PB20Z
B.5PFG25F20
C.2.5P20×20Z
D.5Pφ25FG20
2.單項(xiàng)選擇題晶片直徑相同的超聲波探頭，頻率高的其聲束擴(kuò)散角（）。
A.變大
B.變小
C.不變
D.A、B和C
3.單項(xiàng)選擇題下列不能表示5P6×6K2探頭參數(shù)的是（）。
A.頻率為5MHz
B.矩形晶片尺寸為6×6㎜
C.K值為2
D.焦點(diǎn)尺寸為6×6㎜
4.單項(xiàng)選擇題探頭中壓電材料的作用是（）。
A.將電能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能或?qū)C(jī)械能轉(zhuǎn)換成電能
B.產(chǎn)生衰減
C.吸收超聲波
D.產(chǎn)生同步電信號(hào)
5.單項(xiàng)選擇題某些單晶體或多晶體陶瓷材料在應(yīng)力作用下產(chǎn)生應(yīng)變時(shí)引起晶體電荷的不對(duì)稱分配，異種電荷向正反兩面集中，材料的晶體就產(chǎn)生電場(chǎng)和極化。這種效應(yīng)稱為（）。
A.逆壓電效應(yīng)
B.介電常數(shù)
C.機(jī)械品質(zhì)因子
D.正壓電效應(yīng)
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
人的眼睛在強(qiáng)光下，（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí)，（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。
題型：多項(xiàng)選擇題
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比，任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng)，下面描述正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
與一次射線相比，散射線的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
題型：多項(xiàng)選擇題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
對(duì)滲透探傷無影響的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題