填空題探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長(zhǎng)的()。它隨頻率的增加、晶片直徑的減小而()。
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5.單項(xiàng)選擇題探頭中晶片壓電材料的作用是()。
A、將電能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能
B、將機(jī)械能轉(zhuǎn)換成電能
C、將熱能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能
D、A和B
最新試題
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
與一次射線相比,散射線的()。
題型:多項(xiàng)選擇題
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
題型:多項(xiàng)選擇題
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
題型:多項(xiàng)選擇題
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
題型:多項(xiàng)選擇題