使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。