下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述，不正確的一項是（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

一般認為表面波探測的有效深度約為（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

探頭的分辨力（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）