某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線(xiàn)，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線(xiàn)能量為（）

對(duì)于鉬靶X射線(xiàn)管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的。

底片的最佳黑度值與觀(guān)片燈的亮度有關(guān)，觀(guān)片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。

探頭的分辨力（）