單項(xiàng)選擇題在晶體管放大電路中，常用的負(fù)反饋方式不包括（）。
A.電壓并聯(lián)負(fù)反饋
B.電壓串聯(lián)負(fù)反饋
C.電流并聯(lián)負(fù)反饋
D.電流電壓混聯(lián)負(fù)反饋
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1.單項(xiàng)選擇題數(shù)字電路中最基本的邏輯門不包括（）。
A.與門
B.或門
C.非門
D.方門
2.單項(xiàng)選擇題第二代集成運(yùn)放，電路內(nèi)部包括四個(gè)基本組成部分，即輸入級(jí)、中間級(jí)、輸出級(jí)和（）
A.正反饋電路
B.負(fù)反饋電路
C.偏置電路
D.放大電路
3.單項(xiàng)選擇題在數(shù)字電路中的觸發(fā)器是時(shí)序電路的基本單元，它能夠存儲(chǔ)（）位二進(jìn)制數(shù)碼，即具有記憶功能。
A.1
B.2
C.3
D.6
4.單項(xiàng)選擇題常用的鉗工工具不包括（）。
A.劃線工具
B.暫削工具
C.鋸削工具
D.鉗臺(tái)
5.單項(xiàng)選擇題常用的鉗工設(shè)備不包括（）。
A.鉆機(jī)
B.虎鉗
C.砂輪機(jī)
D.鉗臺(tái)
最新試題
液浸探傷，調(diào)整工件表面與探頭的距離是使聲波在水中傳播時(shí)間和在工件中傳播時(shí)間相等。
題型：判斷題
超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差越小，聲壓往復(fù)透過(guò)率越低。
題型：判斷題
透度計(jì)的主要用途是確定缺陷是否合格。
題型：判斷題
探頭芯片輻射的縱波，其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑，聲程成正比。
題型：判斷題
對(duì)順磁性，逆磁性的工件，通常采用磁粉探傷方法檢測(cè)。
題型：判斷題
通用AVG曲線采用的是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭
題型：判斷題
渦流的流向與缺陷主平面平行時(shí)，缺陷檢出率高。
題型：判斷題
用折射角71°的探頭，探測(cè)板厚25mm的對(duì)接焊縫，測(cè)定范圍為125mm是很合適的。
題型：判斷題
材質(zhì)和超聲頻率給定時(shí)，橫波對(duì)小缺陷的檢測(cè)靈敏度高于縱波。
題型：判斷題
由于超聲波有擴(kuò)散衰減，所以超聲波檢驗(yàn)盡可能在近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。
題型：判斷題