問答題核傷校對(duì)法中的直探頭校對(duì)法適用在何種情況?
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超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。
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直探頭縱波探傷時(shí),工件上下表面不平行,會(huì)使底面回波變窄。
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液浸探傷,調(diào)整工件表面與探頭的距離是使聲波在水中傳播時(shí)間和在工件中傳播時(shí)間相等。
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用折射角71°的探頭,探測板厚25mm的對(duì)接焊縫,測定范圍為125mm是很合適的。
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渦流的流向與缺陷主平面平行時(shí),缺陷檢出率高。
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探頭芯片輻射的縱波,其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑,聲程成正比。
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通用AVG曲線采用的是以近場長度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭
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透度計(jì)的主要用途是確定缺陷是否合格。
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