超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面上，其聲壓反射率和聲壓透射率之和為1。

探頭芯片輻射的縱波，其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑，聲程成正比。

通用AVG曲線采用的是以近場長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭

由于超聲波有擴散衰減，所以超聲波檢驗盡可能在近場區(qū)進行。

透度計的主要用途是確定缺陷是否合格。

超聲波垂直入射時，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差越小，聲壓往復(fù)透過率越低。

理想的鏡面大平面，對聲波產(chǎn)生全反射，隨傳播距離的增加其回波聲壓不變。

滲透探傷的預(yù)處理中，一般采用噴吵處理。

超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。

射線透過工件的兩個不同厚度的強度比值，稱為工件對比度。