A.空心陰極燈電壓
B.負(fù)高壓
C.原子化溫度
D.原子化器高度
E.載氣流量
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A.氬氣
B.通風(fēng)
C.管路
D.計(jì)算機(jī)
E.儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)
A.通風(fēng)櫥開啟
B.冷卻水開啟
C.電源開啟
D.氬氣足夠
E.半導(dǎo)體制冷打開
A.加標(biāo)回收率法
B.標(biāo)樣驗(yàn)證法
C.標(biāo)準(zhǔn)加入法
D.類型標(biāo)準(zhǔn)化法
E.單點(diǎn)校正法
A.蠕動(dòng)泵管
B.防塵過濾網(wǎng)
C.炬管
D.雙錐
E.四級(jí)桿
A.檢測(cè)限低
B.動(dòng)態(tài)線性范圍寬
C.可同時(shí)測(cè)量多種元素
D.靈敏度高
E.每次測(cè)量一個(gè)元素
最新試題
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。
紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對(duì)二氧化硫的檢測(cè)。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。
原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鐵合金中碳硫含量，批量分析時(shí)應(yīng)每測(cè)定一定數(shù)量樣品，插做一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品，檢查儀器的線性是否漂移。
X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。