單項(xiàng)選擇題壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)高,其品片發(fā)射性能好,壓電電壓常數(shù)高,其晶片()性能好。

A.接收
B.轉(zhuǎn)化
C.轉(zhuǎn)變
D.固定


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2.單項(xiàng)選擇題探頭的掃查范圍取決于探頭有效尺寸和()

A.實(shí)際尺寸
B.設(shè)計(jì)尺寸
C.儀器準(zhǔn)確率
D.儀器重復(fù)頻率

3.單項(xiàng)選擇題A型顯示超聲儀的發(fā)射電路中,電阻大時(shí)阻尼小,()大分辨低。

A.接受強(qiáng)度
B.發(fā)射強(qiáng)度
C.接收強(qiáng)度
D.收到強(qiáng)度

最新試題

磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題