單項(xiàng)選擇題壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)高,其品片發(fā)射性能好,壓電電壓常數(shù)高,其晶片()性能好。
A.接收
B.轉(zhuǎn)化
C.轉(zhuǎn)變
D.固定
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1.單項(xiàng)選擇題用于剩磁檢驗(yàn)的材料的剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度應(yīng)在0.8T以上,矯頑力在()
A.600A/m
B.700A/m
C.800A/m
D.900A/m
2.單項(xiàng)選擇題探頭的掃查范圍取決于探頭有效尺寸和()
A.實(shí)際尺寸
B.設(shè)計(jì)尺寸
C.儀器準(zhǔn)確率
D.儀器重復(fù)頻率
3.單項(xiàng)選擇題A型顯示超聲儀的發(fā)射電路中,電阻大時(shí)阻尼小,()大分辨低。
A.接受強(qiáng)度
B.發(fā)射強(qiáng)度
C.接收強(qiáng)度
D.收到強(qiáng)度
4.單項(xiàng)選擇題對(duì)新安裝探頭及()探頭,微機(jī)探傷操作人員須依據(jù)微機(jī)控制超聲波探頭性能測(cè)試方法進(jìn)行檢測(cè)。
A.使用一周
B.使用期超過兩周的
C.使用超過三周
D.使用超過四周
5.單項(xiàng)選擇題磁吸附檢測(cè)時(shí),磁頭工作電流為()磁頭磁場(chǎng)強(qiáng)度為120KA/m。
A.13A
B.14A
C.15A
D.16A
最新試題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題