單項(xiàng)選擇題用來進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析的X射線學(xué)分支是()
A.X射線透射學(xué);
B.X射線衍射學(xué);
C.X射線光譜學(xué)
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最新試題
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。
題型:判斷題
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡(jiǎn)寫為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
題型:判斷題
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實(shí)現(xiàn)的。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子,能量基本上沒有損失。
題型:判斷題
關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作,說法正確的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí),記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型:判斷題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型:判斷題